臺式電子顯微鏡（ScanningElectronMicroscope，SEM）是一種現(xiàn)代化的高分辨率成像設(shè)備，它利用電子束和樣品之間的相互作用來獲取圖像。與光學(xué)顯微鏡不同，電子顯微鏡能夠獲得更高的圖像分辨率和放大倍數(shù)，因此被廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。原理基于電子的波粒二象性。當(dāng)電子束穿過樣品表面時，會與樣品中的原子和分子發(fā)生相互作用，并產(chǎn)生各種信號，如反射電子、透射電子、散射電子和次級電子等。通過檢測和處理這些信號，就可以形成高分辨率的圖像。臺式電子顯微鏡的主要...

工業(yè)X射線檢測是一種非破壞性檢測技術(shù)，廣泛應(yīng)用于各行各業(yè)的質(zhì)量控制和安全檢測領(lǐng)域。本文將介紹設(shè)備的原理、分類、應(yīng)用及未來趨勢。一、原理X射線是一種能夠穿透物體并被不同材料部分散射或吸收的電磁輻射。工業(yè)X射線檢測設(shè)備通過向待檢測物體發(fā)出X射線束，并測量其透射或散射情況，從而確定物體內(nèi)部的結(jié)構(gòu)、缺陷、密度等特征。二、分類可分為傳統(tǒng)X射線設(shè)備和數(shù)字化X射線設(shè)備兩類。傳統(tǒng)X射線設(shè)備采用膠片或熒光屏等感光介質(zhì)進(jìn)行成像，需要顯影、定影等繁瑣步驟。數(shù)字化X射線設(shè)備則采用數(shù)字探測器將X射線信...

隨著工業(yè)制造水平的不斷提高，對產(chǎn)品質(zhì)量的要求也越來越高。而在產(chǎn)品制造過程中，很多缺陷都是難以通過肉眼或其他檢測方法直接發(fā)現(xiàn)的，這就需要借助先進(jìn)的檢測技術(shù)來保證產(chǎn)品的質(zhì)量。其中，工業(yè)X光機(jī)檢測設(shè)備就是一種非常重要的方式。一、原理X光機(jī)檢測利用的是X射線通過物體后被探測器捕獲的信號，通過對信號的處理來確定物體內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和缺陷。X射線在物體內(nèi)部的傳播路徑會受到物體材料密度、厚度等因素的影響，因此，在X光機(jī)檢測中，可以根據(jù)X射線透過物體后照射到探測器上的強(qiáng)度變化情況來判斷物體內(nèi)部的結(jié)...

半導(dǎo)體X射線檢測設(shè)備是一種用于發(fā)現(xiàn)物體內(nèi)部缺陷的非破壞性測試技術(shù)。在工業(yè)制造和質(zhì)量控制方面得到廣泛應(yīng)用，例如半導(dǎo)體芯片、電子元件、金屬制品等領(lǐng)域。由三個主要部分組成：X射線源、檢測器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。X射線源會向被測物體發(fā)射高能的X光束，當(dāng)這些X光束穿過物體時，會與物體內(nèi)部的原子相互作用，從而發(fā)生散射或吸收。檢測器會接收到這些經(jīng)過物體后剩余的弱X光束，并將其轉(zhuǎn)換為電信號。數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)則會根據(jù)這些信號來重建物體內(nèi)部的圖像，并通過圖像分析來確定物體是否存在缺陷。半導(dǎo)體X射線檢測設(shè)備...

臺式掃描電子顯微鏡是一種高分辨率的電子顯微鏡，具有直觀、可視化、可分析等優(yōu)點。臺式掃描電子顯微鏡由以下幾個主要部分組成：物鏡、載物臺、光源和數(shù)碼相機(jī)。物鏡是顯微鏡的關(guān)鍵部件，它的放大倍數(shù)決定了最終的成像質(zhì)量。載物臺用于支持被觀察的樣品，同時也是電子顯微鏡的重要組成部分。光源用于產(chǎn)生光線，照射在樣品上，形成電子束。數(shù)碼相機(jī)用于捕捉樣品的圖像信息，并將其傳輸?shù)诫娮语@微鏡中。工作原理是：樣品放置在載物臺上，光線通過物鏡照射在樣品上，形成電子束。電子束會穿透樣品，經(jīng)過物鏡和光路調(diào)整，...

隨著人們對環(huán)保和能源問題的日益重視，鋰電池作為一種高效、可靠的儲能設(shè)備被越來越廣泛地應(yīng)用于電動汽車、移動設(shè)備等領(lǐng)域。然而，由于其內(nèi)部構(gòu)造的復(fù)雜性和使用過程中的磨損等因素，鋰電池存在著某些安全隱患，例如漏電、起火等問題。因此，對鋰電池進(jìn)行X光檢測成為了確保其質(zhì)量和安全的重要手段之一。鋰電池X光檢測設(shè)備是一種非侵入式的檢測技術(shù)，通過將待測試的鋰電池置于特定的位置，并利用X光線穿透方式來獲取鋰電池內(nèi)部的結(jié)構(gòu)信息。目前，市面上已經(jīng)有多種不同型號的設(shè)備供用戶選擇，這些設(shè)備在外形尺寸、檢...